SEM?
Scanning electron microscope
To analysis surface of specimen
Qualitative analysis at certain point
Operation principal of SEM
Emission electron from filament
Accelerate electron by electric field
Focusing electron by lens → mono-chromatic electron beam
Generate secondary electron and etc.
Detection of electron
투과전자현미경은 주로 시료의 내부구조나 단면을 관찰하는데 쓰이고 있다. 원리는 광학현미경과 비슷하다. 전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태(1x10-4 이상)에서 고속으로 가속되는 전자선으로 이 전자선이 표본을 투과하여 형광판이나 사진필름에 초점을 맞추어 투사된다. 이 전자의 파장은 가
Dip-pen Lithography
1. 서론
과학의 방향이 원자 크기대의 극소형의 것을 대상으로 하게 됨에 따라 이들을 관찰하고 조작하고 또 그 성질과 양을 이해하기 위해서는 나노 테크놀로지를 필요로 하게 되었다. 이러한 나노 테크놀로지는 1982년 스위스의 Binnig Rhorer 박사가 개발한 Scanning tunneling microscopy(STM
2-1.
이를 해결하기 위해 다중겹 탄소나노튜브(VA-MWCNTs; Vertically Aligned Multiwalled Carbon Nanotube)를 PMMA와 함께 형성하여 안정한 전계 방출 특성을 얻는데 성공.
이 PMMA-CNT 매트릭스 어레이는 초기 형성된 샘플보다 절반 정도 낮은 1.675V/um의 문턱 전계장(threshold field)을 기록했다. 또한 거의 모든 표면에서
The cathode electrocatalyst was the electrostatic adduct of bilirubin oxidase (BOD) also a polyanion at physiological pH
Carbon Nanotube-AttachedGlucose Oxidase for Biofuel Cells
The carbon electrode coated with CNT–GOx composites
was applied as an anode in a model glucose/O2 biofuel cell
CNT-supported glucose oxidase (CNT–GOx) was examined in the presence of 1,4
Emission Display), 2차 전지 전극, 나노 와이어, SPM(Scanning Probe Microscope)의 탐침(probe), 고기능 복합체 등에서 많은 응용가능성을 보여주고 있다.
◎ 탄소나노튜브의 구조와 종류
탄소나노튜브는 그림1에서 볼 수 있듯이 지그재그(zigzag)와 암체어(armchair)라고 알려진 두개의 대칭구조가 가능하지만 실제로 대
Scanning Tunneling Microscope(STM)과 Atomic Force Microscope(AFM)등과 같은 Scanning Probe Microscopy(SPM)의 발달로 원자나 분자의 이동, 변조가 가능해져 1990년 미국 IBM의 Eigler에 의해 T=4K에서 STM 검침을 사용하여 27개의 Xe 원자를 움직여 세계에서 가장 작은 글자인 IBM을 써서 세상을 놀라게 하였다. 한편 수년 전부터 직경
Scanning Tunneling Microscope(STM)과 Atomic Force Microscope(AFM)등과 같은 Scanning Probe Microscopy(SPM)의 발달로 원자나 분자의 이동, 변조가 가능해져 1990년 미국 IBM의 Eigler에 의해 T=4K에서 STM 검침을 사용하여 27개의 Xe 원자를 움직여 세계에서 가장 작은 글자인 IBM을 써서 세상을 놀라게 하였다. 한편 수년 전부터 직경
1.실험 목적
주사전자현미경(Scanning Electron Microscope : SEM)을 이용하여 재료의 미세구조를 관찰하는 방법을 학습한다.
2. 실험 방법
1)시험편의 준비
세라믹 분말의 입자크기 및 소결체의 단면 평균 결정립 크기를 측정하기 위한 시편준비 과정에 따라 시험편을 준비한다.
①시험편의 절단
세라믹 분